YD-T 3037.2-2023 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法第2部分：UICC -在线下载 -AI解读-yd-t.icu

ICS 33.060.20 CCS M36 YD 中华人民共和国通信行业标售 YD/T 3037.2—XXXX 代替YD/T3037.2-2016 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储诸接口特性测试方法第2部分：UICC Test methods for mass storage characteristic between UICC and terminal interface - -Part 2:UICC 行业标准信息服务平台 (报批稿) XXXX-XX-XX实施 XXXX-XX-XX发布发布中华人民共和国工业和信息化部行业标准信息服务平台 YD/T XXXXXXXXX 目次前 III 引 IV 1范围. 2规范性引用文件. 3术语和定义.. 4符号和缩略语.. 4.1符号.... 4.2缩略语.. 5测试环境... 5.1检测设备（TE） 5.2被测设备的默认操作条件 5.3测试执行. 5.4通过标准， 6预期结果... 6.1系统架构.. 6.2物理特性.. 6.3电气特性.. 6.4初始通信建立 6.5性能要求. 10 6.6功能要求. 11 7测试方法.. 13 7.1物理特性测试. 13 7.2电气特性测试. 23 7.3初始化测试. 33 7.4性能测试.. .47 7.5功能测试 .50 附录 A （规范性）预期结果和测试方法的章节对应关系 .59 附录B （规范性）USBUICC额外的可选测试例 64 B.1概述. .64 B.2 USB CCID Bulk 传输. .64 附录C（规范性）USBUICC电气特性的额外可选要求和测试例 70 C.1概述 C.2USB2.0补充规范-ICUSB内容和USB2.0规范的- 一致性要求 .70 C.3附加的电气测试例附（规范性）说明 80

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