(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111552757.8 (22)申请日 2021.12.17 (71)申请人 深圳国微福芯技 术有限公司 地址 518000 广东省深圳市福田区福保街 道福保社区桃花路与 槟榔道交汇处西 北深九科技创业园2号楼801 (72)发明人 赵文鹏　苏东　李鹏浩　王华卓　 范文妍　鲍琛　白耿　何元　 (74)专利代理 机构 深圳市康弘知识产权代理有 限公司 4 4247 代理人 王金刚 (51)Int.Cl. G06F 30/3308(2020.01) G06F 30/27(2020.01) G06K 9/62(2022.01)G06F 111/08(2020.01) (54)发明名称 一种集成电路良率估算方法及存 储器 (57)摘要 本发明提供了一种集成电路良率估算方法 及存储器， 所述方法包括： 构建初始的提议 分布， 并进行如下迭代过程： 在构建的提议分布下进行 重要性采样， 对产生的样本点进行电路仿真， 得 到每个样 本点的性能参数； 根据划定的性能边界 确定多个失效点， 并计算每个失效点的重要性权 重， 随后进行良率估算； 根据估算的良率计算重 要性采样的品质因数并判断重要性采样的品质 因数是否达到设定的指标， 若达到， 则退出迭代 并输出估算的良率， 否则， 通过线性插值法更新 失效点的位置参数并构建新的提议分布， 并重新 进行迭代。 采用本发明的技术方案， 可 以提高集 成电路良率的估算效率。 权利要求书2页 说明书5页 附图3页 CN 114186518 A 2022.03.15 CN 114186518 A 1.一种集成电路良率估算方法， 其特 征在于， 包括： 构建初始的提 议分布， 并进行如下迭代运 算： 在构建的提议分布下进行重要性采样， 对产生的样本点进行电路仿真， 得到每个样本 点的性能参数； 根据划定的性能边界确定多个失效点， 并计算每个失效点的重要性权重， 随后进行良 率估算； 根据估算的良率计算重要性采样的品质因数并判断重要性采样的品质因数是否达到 设定的， 若达到， 则退出迭代并输出估算的良率， 否则， 通过线性插值法更新失效点的位置 参数并构建新的提 议分布， 重新进行迭代。 2.如权利要求1所述的集成电路良率估算方法， 其特征在于， 构建初始的提议分布的过 程包括： 首先确定实施例电路的参数域R的范围， 随后选择Sobol序列在参数域R中采集M个样 本， 对这M个样本进行电路仿真， 得到一系列性能参数， 根据划定的性能边界确定一系列失 效点{x0,x1,…,xp‑1}， p为失效点个数； 随机选择k个对象作为初始聚类中心， 其余失效点按欧氏距离最小的原则分配到离它 最近的聚类中； 把k个初始聚类中心两 两连线， 合并那些距离 很近的聚类， 最终确定k1个聚类； 在每个聚类中， 根据最小二范数原理重新确定聚类中心si＝arg min||si‑xj||,i＝1, 2,…k1,j＝1,2, …ki,2， 式中si为第i个聚类的聚类中心， xj为第i个聚类中的所有失效样本， 根据新的聚类中心重新确定参数空间中所有失效样本所属聚类， 由此确定了k1个失效域 根据每个失效域中心构建对应失效域的提 议分布。 3.如权利要求2所述的集成电路良率估算方法， 其特征在于， 根据每个失效域中心构建 对应失效域的提 议分布， 包括： 将每个聚类的聚类中心当作重要性采样 提议分布的采样中心， 构建k1个高斯分布qi(x) ＝qi(x|ui, σ )i＝1,…,k1。 4.如权利要求2所述的集成电路良率估算方法， 其特征在于， 根据划定的性能边界确定 多个失效点， 包括： 在在构建的提议 分布下取抽N个样本 t 为迭代的次数， 每个失效区抽取样本个数为N1＝N/k1， 对这些样本进行电路仿真， 得到性 能 参数， 根据划定的性能边界判定失效点， 其中， N1取N/k1的整数部分。 5.如权利要求4所述的集成电路良率估算方法， 其特征在于， 计算重要性权重的公式如 下： 其中， N为样本的个 数， f(xi)为集成电路原始工艺参数服从的分布 π(x|u, σ )的概率密度 函数， 为第t次迭代构建的提 议分布 的概率密度函数；权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 114186518 A 2I(xi)是指标函数， 当样本点xi经过电路仿真判定为失效点时为1， 不是失效点时为0， 即： 6.如权利要求5所述的集成电路良率估算方法， 其特 征在于， 估算良率的公式如下： 7.如权利要求6所述的集成电路良率估算方法， 其特征在于， 重要性采样的品质因数ρ 的计算公式如下： 其中， 表示第t次迭代估计的失效率， 8.如权利要求2所述的集成电路良率估算方法， 其特征在于， 通过线性插值法更新失效 点的位置参数并构建新的提 议分布， 包括： 根据线性插值法产生Γ个新的位置参数， 每个失 效域产生的新的位置参数的个数为Γ1 ＝Γ/k1， 其中,Γ为设定的个数， Γ1取Γ/k1的整数部分； 以每个失效域重要 性权重最大的点作为基准点， 选择与基准点具有最小 二范数的Γ1个 失效点， 将基准 点与这些点连线， 得到线性方程 式中h1,…,hp为基准点p个维度的坐标， gi,1 是其它每 个失效点p个维度的坐标； 在每个线段上产生一个服从[0,1]的均匀分布的随机 数r， 得到插值点的位置参数{l1＝ gi,1+(h1‑gi,1)×r,l2＝ η λ2+gi,2,…,lp＝ η λp+gi,p},i＝1,…Γ1； 根据这些插值 点建立每 个失效域 新的提议分布。 9.一种存储器， 其特征在于， 所述存储器中存储有计算机程序， 当所述计算机程序被执 行时， 实现如权利要求1 ‑8任一项所述的集成电路良率估算方法。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 114186518 A 3