(19)中华 人民共和国 国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202111469002.1 (22)申请日 2021.12.0 3 (71)申请人 大亚湾核电运营 管理有限责任公司 地址 518124 广东省深圳市大鹏新区大鹏 街道鹏飞路大亚湾 核电基地01楼B10 5 申请人 苏州热工 研究院有限公司 　 中国广核集团有限公司 　 中国广核电力股份有限公司 (72)发明人 马蜀　王国云　姚力恺　彭超　 王志武　刘立华　涂画　 (74)专利代理 机构 深圳市瑞方达知识产权事务 所(普通合伙) 44314 代理人 高瑞 (51)Int.Cl. G06Q 10/06(2012.01)G06Q 50/06(2012.01) G06F 30/20(2020.01) G06F 119/04(2020.01) (54)发明名称 核电厂仪控设备的老化评估方法及系统 (57)摘要 本发明涉及了一种核电厂仪控设备的老化 评估方法及系统， 该老化评估方法包括： 对核电 厂所有的仪控设备进行分级以获取各个仪控设 备的等级， 并根据所述仪控设备的等级从核电厂 所有的仪控设备中筛选出待评估设备； 分别从各 个待评估设备中筛选出易老化元件； 获取所述易 老化元件的耐久性试验数据， 和/或， 收集所述待 评估设备的群厂故障历史信息； 根据所述耐久性 试验数据或所述群厂故障历史信息， 分别确定每 个所述易老化元件的评估寿命； 根据所述待评估 设备的等级及所述待评估设备中的各个易老化 元件的评估寿命， 分别确定各个待评估设备的更 换策略。 实施本发明的技术方案， 该方法相比现 有的整件加速老化寿 命试验， 实施成本 较低。 权利要求书3页 说明书11页 附图2页 CN 114298482 A 2022.04.08 CN 114298482 A 1.一种核电厂仪控设备的老化评估方法， 其特 征在于， 包括： 步骤S10.对核电厂所有的仪控设备进行分级以获取各个仪控设备的等级， 并根据 所述 仪控设备的等级从核电厂所有的仪控设备中筛 选出待评估设备； 步骤S20.分别从各个待评估设备中筛 选出易老化元件； 步骤S30.获取所述易老化元件的耐久性试验数据， 和/或， 收集所述待评估设备的群厂 故障历史信息； 步骤S40.根据 所述耐久性试验数据或所述群厂故障历史信 息， 分别确定每个所述易老 化元件的评估寿命； 步骤S50.根据所述待评估设备的等级及所述待评估设备中的各个易老化元件的评估 寿命， 分别确定各个待评估设备的更 换策略。 2.根据权利要求1所述的核电厂仪控设备的老化评估方法， 其特征在于， 所述步骤S40 包括： 步骤S41.在获取到所述易老化元件的耐久性试验数据时， 测量所述易老化元件的实际 工作温度， 其中， 所述耐久性试验数据包括 额定温度下的元件寿命； 步骤S42.根据所述耐久性试验数据及所述实际工作温度确定所述易老化元件的评估 寿命。 3.根据权利要求2所述的核电厂仪控设备的老化评估方法， 其特征在于， 在所述步骤 S412中， 根据公式1计算所述 易老化元件的评估寿命： 其中， L1为所述易老化元件的评估寿命； L0为所述易老化元件的耐久性试验数据中的 额定温度下的元件寿命； T0为 额定温度， T1为实际工作温度。 4.根据权利要求1所述的核电厂仪控设备的老化评估方法， 其特征在于， 所述步骤S40 包括： 步骤S43.在收集到所述待评估设备的群厂故障历史信 息时， 将群厂中与所述待评估设 备相同型号的仪控设备作为参考仪控设备， 并统计群厂中所述参考仪控设备的故障总数及 发生故障的参 考仪控设备在故障前的运行时间和； 步骤S44.根据所述参考仪控设备的故障总数及发生故障的参考仪控设备在故障前的 运行时间和， 计算所述待评估设备的置信区间； 步骤S45.根据所述待评估设备的置信区间与预先获取的所述待评估设备中各个易老 化元件的经验寿命区间， 确定所述待评估设备中的各个易老化元件的评估寿命。 5.根据权利要求4所述的核电厂仪控设备的老化评估方法， 其特征在于， 所述步骤S44 包括： 步骤S441.根据公式2计算所述待评估设备的失效率的点估计： 其中， λp为所述待评估设备的失效率的点估计， r为所述参考仪控设备的故障总数， T为 发生故障的参 考仪控设备在故障前的运行时间和；权　利　要　求　书 1/3 页 2 CN 114298482 A 2步骤S442.根据公式3计算所述待评估设备的失效率的90％置信区间的下限： 其中， λd为所述待评估设备的失效率的90％置信区间的下限， 为卡方分布函数。 6.根据权利要求5所述的核电厂仪控设备的老化评估方法， 其特征在于， 所述步骤S45 包括： 步骤S451.将所述待评估设备的失效率的90％置信区间的下限与预先获取的所述待评 估设备的同类型设备的失效率范围进行比较； 步骤S452.判断所述待评估设备的失效率的90％置信区间的下限是否大于同类型设备 的失效率范围的上限， 若是， 则执 行步骤S45 3； 若否， 则执 行步骤S454； 步骤S453.根据预先获取的所述待评估设备中各个易老化元件的经验寿命区间的下限 值， 确定所述待评估设备中的各个易老化元件的评估寿命， 然后结束； 步骤S454.计算所述 参考仪控设备在第i 年内的故障率， 其中， i ＝1、 2、 3、 …； 步骤S455.根据所述参考仪控设备在所述第i年内的故障率绘制故障率曲线， 并判断所 述故障率曲线的趋势是否为升高， 若是， 则执 行步骤S45 3； 若否， 则执 行步骤S45 6； 步骤S456.根据预先获取的所述待评估设备中各个易老化元件的经验寿命区间的上限 值， 确定所述待评估设备中的各个易老化元件的评估寿命。 7.根据权利要求6所述的核电厂仪控设备的老化评估方法， 其特征在于， 所述步骤S454 包括： 步骤S4541.统计发生故障的每个参考仪控设备的失效日期距离其首次投运的时间， 以 获取发生 故障的每个参考仪控设备的运行时间， 并将发生故障的每个参考仪控设备的运行 时间按年进行分组， 以获取 所述参考仪控设备运行到第i 年内的故障次数； 步骤S4542.计算所有参 考仪控设备在第i 年内的总运行时间； 步骤S4543.根据公式4， 计算所述 参考仪控设备在第i 年内的故障率： λi＝M/T    公式4 其中， λi为所述参考仪控设备在第i年内的故障率， M为所述参考仪控设备运行到第i年 内的故障次数， T为所述 参考仪控设备在第i 年内的总运行时间。 8.根据权利要求1所述的核电厂仪控设备的老化评估方法， 其特征在于， 所述步骤S50 包括： 若所述待评估设备的等级为第 一等级， 则确定出所述待评估设备中所有易老化元件的 评估寿命中最短的评估寿命， 并根据所述 最短的评估寿命确定 定期整件更 换策略； 若所述待评估设备的等级为第 二等级， 且所述待评估设备中所有易老化元件的评估寿 命均大于预设值， 则确定出所述待评估设备中所有易老化元件的评估寿命中最短的评估寿 命， 并根据所述 最短的评估寿命确定 定期整件更 换策略； 若所述待评估设备的等级为第 二等级， 且所述待评估设备中至少一个易老化元件的评 估寿命不大于预设值， 则根据所述至少一个易老化元件的评估寿命确定单独更换元件策略 及根据所述待评估设备中评估寿命的大于预设值的易老化元件的评估寿命确定定期整件 更换策略。权　利　要　求　书 2/3 页 3 CN 114298482 A 3