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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210167185.X (22)申请日 2022.02.23 (71)申请人 苏州矽行半导体技 术有限公司 地址 213166 江苏省苏州市高新区培源路2 号微系统园2号楼10 6室 (72)发明人 不公告发明人   (74)专利代理 机构 北京千壹知识产权代理事务 所(普通合伙) 11940 专利代理师 王玉玲 (51)Int.Cl. G01N 21/01(2006.01) G01N 21/95(2006.01) (54)发明名称 一种晶圆侧边影 像检测装置 (57)摘要 本发明提供了一种晶圆侧边影像检测装置, 属于半导体检测领域, 装置包括影像采集机构、 晶圆载台和控制器, 影像采集机构距离可调的正 对晶圆载台设置, 晶圆载台高度可调的旋转支撑 多种规格的晶圆, 通过控制器控制晶圆载台带动 被测晶圆旋转, 并控制影像采集机构完成对晶圆 全周侧的影像采集; 装置设置多个影像采集机构 围绕晶圆载台周向均布的设置; 以此提高晶圆侧 边影像采集的精度和效率, 便于在半导体检测领 域中推广应用。 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 CN 114460009 A 2022.05.10 CN 114460009 A 1.一种晶圆侧边影像检测装置, 其特征在于: 装置包括影像采集机构(100)、 晶圆载台 (200)和控制器, 所述影像采集机构(100)距离可调的正对晶圆载台(200)设置, 所述晶圆载 台(200)高度可调的旋转支撑多种规格的晶圆, 通过控制器控制晶圆载台(200)带动被测晶 圆旋转, 并控制影 像采集机构(10 0)完成对晶圆全周侧的影 像采集。 2.根据权利要求1所述的晶圆侧边影像检测装置, 其特征在于: 所述晶圆载台(200)包 括载台底座(201)、 升降台柱(202)和旋转载盘(203); 其中, 所述升降台柱(202)用于调节旋 转载盘(203)的高度以使其上承载的晶圆侧边厚度完全落入影像采集机构(100)的影像采 集范围; 所述旋转载盘(203)支撑定位待测晶圆, 并使待测晶圆按规定角速度旋转以适于检 测。 3.根据权利要求2所述的晶圆侧边影像检测装置, 其特征在于: 所述升降台柱(202)上 设有高度传感器, 所述旋转载盘(20 3)处设有角度传感器。 4.根据权利要求2所述的晶圆侧边影像检测装置, 其特征在于: 所述影像采集机构 (100)包括采集底座、 主安装板(4)、 相机移动载件(5)、 相机转接块(7)、 相机(8)、 镜头(9)、 方光组件、 环光调节架(12)和环光组件; 所述主安装板(4)固定至所述采集底座上, 所述相 机移动载件(5)安装于所述主安装板(4)上, 所述相机(8)通过相机转接块(7)安装于所述相 机移动载件(5)上, 并由所述相机移动载件(5)驱动所述相机(8)和镜头(9)前后移动实现影 像采集距离粗调; 在所述相机移动载件(5)前方设置所述方光组件、 环 光调节架(12)和环 光 组件, 所述环 光调节架(12)前后位置可调的设置在所述相机移动载件(5)的侧边, 通过方光 组件、 环光组件、 相机移动载件(5)和镜 头(9)的调节实现影 像采集机构(10 0)的焦距调整。 5.根据权利要求4所述的晶圆侧边影像检测装置, 其特征在于: 所述方光组件包括L型 的方光支架(10)和安装于方光支架(10)前方的方形光源(11), 所述方光支架(10)安装于所 述相机移动载件(5)上并位于相机转接块(7)前 方以及环光调节 架(12)内侧设置 。 6.根据权利要求4所述的晶圆侧边影像检测装置, 其特征在于: 所述环光组件包括环光 固定板(13)和环形光源(14), 所述环光固定板(13)固定连接至L型的所述环光调节架(12) 的前端, 并使得 所述环形光源(14)随着环光调节 架(12)前后行程可调的布置 。 7.根据权利要求4或5或6所述的晶圆侧边影像检测装置, 其特征在于: 所述影像采集机 构(100)还包括柔性防尘遮光罩(15), 所述柔性防尘遮光罩(15)将镜头(9)、 方光组件、 环光 调节架(12)和环光组件 包覆密封, 并在影 像采集投影方向上伸缩可调。权 利 要 求 书 1/1 页 2 CN 114460009 A 2一种晶圆侧边 影像检测装 置 技术领域 [0001]本发明属于半导体检测领域, 涉及晶圆影像采集技术, 具体涉及一种晶圆侧边影 像检测装置 。 背景技术 [0002]在半导体的前道生产工序中, 晶圆的质量保证尤为关键, 其中晶圆表面检测中的 周边检测 也是其中的重要工艺保障之一。 传统的检测台中, 进设置一套相 机组件固定于晶 圆外周, 对于晶圆侧边的影像采集机构相对单一, 且调节不灵活, 一周检测效率低, 已不能 满足当前的高精、 高效的检测需求。 发明内容 [0003]为了克服现有技术的不足, 本发明的目的在于提供一种晶圆侧边影像检测装置, 其能解决上述问题。 [0004]一种晶圆侧边影像检测装置, 装置包括影像采集机构、 晶圆载台和控制器, 所述影 像采集机构距离可调的正对晶圆载台设置, 所述晶圆载台高度可调的旋转支撑多种规格的 晶圆, 通过控制 器控制晶圆载台带动被测晶圆旋转, 并控制 影像采集机构完成对晶圆全周 侧的影像采集。 [0005]进一步的, 所述晶圆载台包括载台底座、 升降台柱和旋转载盘; 其中, 所述升降台 柱用于调节旋转载盘的高度以使其上承载 的晶圆侧 边厚度完全落入影像采集机构的影像 采集范围; 所述旋转载盘支撑 定位待测晶圆, 并使 待测晶圆按规定角速度旋转以适于检测。 [0006]进一步的, 所述影像采集机构包括采集底座、 主安装板、 相机移动载件、 相机转接 块、 相机、 镜头、 方光组件、 环光调节架和环光组件; 所述主安装板固定至所述采集底座上, 所述相机移动载件安装于所述主安装板上, 所述相机通过相机转接块安装于所述相机移动 载件上, 并由所述相 机移动载件驱动所述相 机和镜头前后移动实现影像采集距离粗调; 在 所述相机移动载件前方设置所述方光组件、 环光调节架和环光组件, 所述环光调节架前后 位置可调的设置在所述相机移动载件的侧边, 通过方光组件、 环光组件、 相机移动载件和镜 头的调节实现影 像采集机构的焦距调整。 [0007]进一步的, 所述影像采集机构还包括柔性 防尘遮光罩, 所述柔性 防尘遮光罩将镜 头、 方光组件、 环光调节 架和环光组件 包覆密封, 并在影 像采集投影方向上伸缩可调。 [0008]相比现有技术, 本发明的有益效果在于: 通过本申请的晶圆侧边影像检测装置, 可 以适应不同规格的晶圆进 行侧边影像采集, 多个影像采集机构的设置可以提高影像采集和 检测效率, 便 于在半导体制造的 晶圆质量控制中推广应用。 附图说明 [0009]图1为晶圆侧边影 像检测装置的结构示 意图; [0010]图2为影像采集机构影 像投影于晶圆侧边的示 意图;说 明 书 1/3 页 3 CN 114460009 A 3

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