(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210277875.0 (22)申请日 2022.03.21 (71)申请人 深圳思博睿智能装备有限公司 地址 518000 广东省深圳市龙华区大浪街 道同胜社区南江工业园厂房2号3层 (72)发明人 黄彩颖　黄显林　 (74)专利代理 机构 东莞市卓易专利代理事务所 (普通合伙) 44777 专利代理师 戈蓉 (51)Int.Cl. G01N 21/95(2006.01) G01N 21/01(2006.01) G01N 21/84(2006.01) (54)发明名称 一种晶体半成品外观缺陷选别装置 (57)摘要 本发明公开了一种晶体半成品外观缺陷选 别装置， 包括： 底座、 侧边相机、 载盘和 翻转轴， 底 座顶部外侧设有门型支架， 所述门型支架上半部 两侧内壁设有侧边相机， 所述门型支架顶部内壁 中央设有顶部相机， 所述底座顶部中央设有载 盘， 所述载盘顶部两侧设有电动滑轨， 所述电动 滑轨顶部设有滑座， 所述滑座顶部之间设有翻转 轴， 本发明通过伺服电机带动翻转轴转动， 带动 晶片、 连接杆 以及吸盘同步转动， 通过电动滑轨 带动滑座向侧边相机一侧移动， 通过侧边相机对 晶片底面进行视觉检测， 检测完成， 通过一次装 夹进行晶片顶 面和底面的检测， 检测效率较高的 同时， 减少了晶片在装夹过程中的损伤。 权利要求书1页 说明书3页 附图3页 CN 114609156 A 2022.06.10 CN 114609156 A 1.一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 包括： 底座(1)、 侧边相机(3)、 载盘(5)和翻转轴 (8)， 其特征在于： 底 座(1)顶部外侧设有门型支架(2)， 所述门型支架(2)上半部两侧内壁设 有侧边相机(3)， 所述门型支架(2)顶部内壁中央设有顶部相机(4)， 所述底座(1)顶部中央 设有载盘(5)， 所述载盘(5)顶部两侧设有电动滑轨(6)， 所述电动滑轨(6)顶部设有滑座 (7)， 所述滑 座(7)顶部之间设有翻转轴(8)， 所述载盘(5)顶部远离翻转轴(8)一侧两端设有 固定座(14)， 所述固定座(14)顶部设有支撑杆(13)， 所述支撑杆(13)顶部与翻转轴(8)之间 设有晶片(9)， 所述翻转轴(8)两端顶部设有连接杆(10)， 所述连接杆(10)远离翻转轴(8)一 端位于晶片(9)上 方设有吸盘(12)。 2.根据权利要求1所述的一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 其特征在于： 所述底座 (1)顶部两侧位于载盘(5)连接 部位设有载盘输送 滑轨(10)。 3.根据权利要求1所述的一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 其特征在于： 所述门型支 架(2)两侧位于侧边相机(3)连接 部位设有Z轴直线滑轨(201)。 4.根据权利要求3所述的一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 其特征在于： 所述Z轴直 线滑轨(201)内部与侧边相机(3)之间设有侧边相机支 架(301)。 5.根据权利要求1所述的一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 其特征在于： 所述门型支 架(2)顶部位于顶部相机(4)连接 部位设有X轴直线滑轨(202)。 6.根据权利要求5所述的一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 其特征在于： 所述X轴直 线滑轨(202)内部与顶部相机(4)之间设有顶部相机支 架(401)。 7.根据权利要求1所述的一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 其特征在于： 所述翻转轴 (8)一侧位于晶片(9)连接 部位开设有卡槽 。 8.根据权利要求1所述的一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 其特征在于： 所述支撑杆 (13)顶部一侧与晶片(9)连接 部位设有支撑 槽。 9.根据权利要求1所述的一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 其特征在于： 位于一侧的 所述滑座(7)外壁位于翻转轴(8)一端设有伺服电机(15)， 所述伺服电机(15)动力输出轴一 端与翻转轴(8)固定连接 。 10.根据权利要求1所述的一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 其特征在于： 所述连接 杆(10)顶部位于吸盘(12)顶部一端设有负压吸管(1 1)。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 114609156 A 2一种晶体半成品外观缺陷选别装 置 技术领域 [0001]本发明涉及晶体 检测技术领域， 具体为 一种晶体半成品外观缺陷选别装置 。 背景技术 [0002]晶片是LED最主要的原物料之一， 是LED的发光部件， LED最核心的部分， 晶片的好 坏将直接决定LED的性能， 晶片是由是由III和V族复合半导体物质构成， 在LED封装时， 晶片 来料呈整齐排列在晶片膜上， 一般在晶片的生产加工中， 需要对晶片的外观缺陷与不良品 进行挑选 。 [0003]现有技术中晶体半成品外观一般通过视觉检测机进行检测， 但是在使用视觉检测 机进行检测时， 往往一次装夹只能检测晶片一面的缺陷， 进 行晶片的顶面和底 面检测时， 需 要进行二次装夹， 多次装夹容 易造成晶片损伤。 发明内容 [0004]本发明的目的在于提供一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 以解决上述背景技术 中提出的在进行 晶片的顶面和底面检测时， 需要进行二次装夹， 多次装夹容易造成晶片损 伤的问题。 [0005]为实现上述目的， 本 发明提供如下技术方案： 一种晶体半成品外观缺陷选别装置， 包括： 底座、 侧边相机、 载盘和翻转轴， 底 座顶部外侧设有门型支架， 所述门型支架上半部两 侧内壁设有侧 边相机， 所述门型支架顶部内壁中央设有顶部相 机， 所述底座顶部中央设有 载盘， 所述载盘顶部两侧设有电动滑轨， 所述电动滑轨顶部设有滑 座， 所述滑 座顶部之间设 有翻转轴， 所述载盘顶部远离翻转轴一侧两端设有固定座， 所述固定座顶部 设有支撑杆， 所 述支撑杆顶部与翻转轴之间设有晶片， 所述翻转轴两端顶部设有连接杆， 所述连接杆远离 翻转轴一端位于晶片上 方设有吸盘。 [0006]优选的， 所述底座顶部 两侧位于载盘连接 部位设有载盘输送 滑轨。 [0007]优选的， 所述门型支 架两侧位于侧边相机连接 部位设有Z轴直线滑轨 。 [0008]优选的， 所述Z轴直线滑轨内部与侧边相机之间设有侧边相机支 架。 [0009]优选的， 所述门型支 架顶部位于顶部相机连接 部位设有X轴直线滑轨 。 [0010]优选的， 所述X轴直线滑轨内部与顶部相机之间设有顶部相机支 架。 [0011]优选的， 所述翻转轴一侧位于晶片连接 部位开设有卡槽 。 [0012]优选的， 所述支撑杆顶部一侧与晶片连接 部位设有支撑 槽。 [0013]优选的， 位于一侧的所述滑座外壁位于翻转轴一端设有伺服电机， 所述伺服电机 动力输出轴一端与翻转轴固定连接 。 [0014]优选的， 所述连接杆顶部位于吸盘顶部一端设有负压吸管。 [0015]与现有技 术相比， 本发明的有益效果是： [0016]本发明通过设置 的翻转轴、 电动滑轨以及伺服电机， 实现了在晶体半成品外观缺 陷选别装置使用时， 将载盘输送至门型支架下方， 通过侧 边相机和顶部相 机对晶片顶部进说　明　书 1/3 页 3 CN 114609156 A 3