(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202210293532.3 (22)申请日 2022.03.24 (71)申请人 中国科学院广州地球化学研究所 地址 510640 广东省广州市天河区科华 街 511号 (72)发明人 王敏　王自鑫　王核　张铭琛　 (74)专利代理 机构 广州新诺专利商标事务所有 限公司 4 4100 专利代理师 张玲春 (51)Int.Cl. G01N 21/01(2006.01) G01N 21/65(2006.01) G01N 27/26(2006.01) G01N 27/27(2006.01) G01N 27/416(2006.01) (54)发明名称 一种多维度的电化学信息与多光谱信息结 合测量方法 (57)摘要 本发明公开了一种多维度的电化学信息与 多光谱信息结合测量方法， 其中， 所述测量方法 包括： 获取被测物的表面形貌信息； 根据所述表 面形貌信息， 确定所述电极阵列在被测物内部的 探测面， 其中， 所述探测面与所述被测物的表面 的距离为预设的深度值； 根据在预设的深度值下 的所述电极阵列， 确定所述被测物的电化学信 息； 同时通过预设深度值测量多光谱信息； 本发 明提供一种在不同温度条件下， 可精确控制探测 深度的电化学和多光谱信息测量方法。 权利要求书1页 说明书6页 附图4页 CN 114813559 A 2022.07.29 CN 114813559 A 1.一种多维度的电化学信息与多光谱信息结合测量方法， 其特征在于， 所述电化学信 息测量方法在不同温度下， 对被测物不同深度进行电化学信息和多光谱信息测量， 应用于 一电子设备， 所述电子设备包括电极阵列， 所述测量方法包括： 获取被测物的表面形貌信息； 根据所述表面形貌信 息， 确定所述电极阵列在被测物内部的探测面， 其中， 所述探测面 与所述被测物的表面的距离为预设的深度值； 根据在预设的深度值下的所述电极阵列， 确定所述被测物的电化学信息； 根据在预设深度值下的所述 光路， 确定所述被测物的多光谱信息 。 2.根据权利要求1所述的测量方法， 其特征在于， 所述获取被测物的表面形貌信息， 包 括： 通过激光测距获取被测物的表面形貌信息 。 3.根据权利要求1所述的电化学信息测量方法与多光谱信息测量方法的结合可以测量 不同温度下被测物体的电化学信息和多光谱信息 。 4.根据权利要求1所述的测量方法， 其特 征在于： 确定所述被测物的电化学信息， 包括： 通过注入电流电阻抗成像方法或感应电流电阻抗成像方法确定所述被测物的电化学 信息。 5.根据权利要求4所述的测量方法， 其特征在于： 所述电极阵列包括激励电极和探测电 极； 所述通过注入电流电阻抗成像方法确定所述被测物的电化学信息， 包括： 对所述激励电极施加激励电信号； 在所述探测电极测量被测物时， 获取对所述激励电信号的响应信号； 根据所述激励电信号与所述响应信号， 得到被测物的电化学信息图像。 6.根据权利要求4所述的测量方法， 其特征在于： 所述感应电流电阻抗成像方法确定所 述被测物的电化学信息， 包括： 预先在所述被测物的表面 放置线圈； 在所述线圈通入交变电流， 所述电极阵列的探针测量所述被测物的涡流信号； 根据所述涡流信号得到被测物的电化学信息图像。 7.根据权利要求1所述的测量方法， 其特 征在于， 所述多光谱信息测量方法包括： 预先设置激光源， 其中， 所述激光源的发射波长根据实际用途决定； 聚光光路将所述激光源发射的光聚焦 在被测物 表面或内部； 收集光路从各个角度收集散射 光； 光谱仪根据不同波长， 将所述散射光在空间中分开， 经过滤波后探测光的强度， 绘制光 谱图。 8.根据权利要求1所述的测量方法， 其特征在于： 可以在不同温度 下测量被测物体的电 化学信息与多光谱信息 。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 114813559 A 2一种多维度的电化学信息与多光谱信息结 合测量方 法 技术领域 [0001]本发明属于物质检测技术领域， 具体涉及 一种多维度的电化学信息与多光谱信息 结合测量方法。 背景技术 [0002]电化学信息成像是通过被测物体内部的电化学信息分布生成图像的技术。 在医学 上， 与计算机断层扫描(CT)、 核磁共振成像(MRI)相比， 电化学信息成像价格更低， 且对 人体 几乎没有损害， 因此在医学上有广阔的应用前景。 电化学信息成像由于有实时性、 快速的特 点， 还可以用于食品检测、 动物组织检测、 工业零件检测、 材料化学成分检测等多种场景下 的现场测量。 [0003]光谱测量是通过不同波长的光在物体内散射、 吸收的强度来测量被测物体的某些 性质， 如官能团结构、 化学元素含量等的一种测量方法， 在农业、 天文、 汽车、 生物、 化学、 镀 膜、 色度计量、 环境检测、 薄膜工业、 食品等领域都有广阔的应用。 [0004]但是， 现有的电化学信息成像或光谱测量等方法并没有在不同温度下， 精确控制 探测深度的测量方法。 发明内容 [0005]为了克服上述技术缺陷， 本发明的目的是提供一种在不 同温度下、 可精确控制探 测深度的电化学信息测量与多光谱信息测量方法。 [0006]为解决上述 技术问题， 本发明采用如下技 术方案： [0007]根据本发明实施例的一个方面， 提供一种电化学信息测量方法， 应用于一电子设 备， 所述电子设备包括电极阵列， 所述测量方法包括： [0008]获取被测物的表面形貌信息； [0009]根据所述表面形貌信息， 确定所述电极阵列在被测物内部的探测面， 其中， 所述探 测面与所述被测物的表面的距离为预设的深度值； [0010]根据在预设的深度值下的所述电极阵列， 确定所述被测物的电化学信息； [0011]根据在预设的深度值下的激光发射与接收光路， 确定所述被测物的多光谱信息 。 [0012]在本发明的一些实施例中， 所述获取被测物的表面形貌信息， 包括： 通过激光测距 获取被测物的表面形貌信息 。 [0013]在本发明的一些实施例中， 所述确定所述被测物的电化学信息， 包括： 通过注入电 流电阻抗成像方法或 感应电流电阻抗成像方法确定所述被测物的电化学信息 。 [0014]在本发明的一些实施例中， 所述电极阵列包括激励电极和探测电极； 所述通过注 入电流电阻抗成像方法确定所述被测物的电化学信息， 包括： [0015]对所述激励电极施加激励电信号； [0016]在所述探测电极测量被测物时， 获取对所述激励电信号的响应信号； [0017]根据所述激励电信号与所述响应信号， 得到被测物的电化学信息图像。说　明　书 1/6 页 3 CN 114813559 A 3